a.電阻元件發熱。測量直流試驗電壓用的高阻器采用的電阻元件一般是體積小、功率小，當其中通過電流的時間較長時，可能使其發熱而改變其電阻值引起測量誤差。
b．支架絕緣電阻低。南于單個電阻元件的電阻值很_人，而支架材料本身的絕緣電阻較低，或者支架受不良的氣象條件和保存條件的影響，而使絕緣電阻降低，這就相當于電阻元件的兩端并聯一個高值電阻引起高阻器的參數變化，導致分壓比變化。因此，測量直流試驗電壓用的高阻器的電阻元件的功率水能太小，其支架應進行防止表面泄漏的處理，使其絕緣電阻應足夠大。
c高壓端電暈放電。在高阻器的高壓端和靠近高壓端的電阻元件，出于處于高電壓而發生電暈放電，電暈放電不儀會損壞電阻元件（特別是薄膜電阻的膜層），使之變質，而且也相當于在電阻元件上并接一個高值電阻，而使高阻器的電阻值發生變化，引起測最誤差。因此，應避免高阻器高壓端及其附近發生電暈放電。 | 
